Zlata Pogo sonda

Zlata Pogo sonda

Zlata Pogo sonda

Glede na različno fizično naravo strukture boste videli različne načine okvare. Toda na splošno je test abstrahiran iz posameznih tranzistorjev, tako da ne vem, ali boste videli veliko razliko. Kadar koli gre industrija skozi eno od teh večjih arhitekturnih sprememb, običajno opazite povečanje intenzivnosti testiranja. Ugotoviti morajo, kakšni so načini okvare, povezani s to novo strukturo tranzistorja, in splošno fizično arhitekturo. Nekaj ​​od tega smo videli na prvih vozliščih finFET, pa naj bo to 22 nm v mikroprocesorskem prostoru ali 14/16 nm v prostoru livarne.

Zlata Pogo sonda

Dober primer tega so specifikacije moči in/ali impedance moči v kartici sonde. Če poskušate vso to moč prenesti v čip iz testne instrumentacije, postane pot, skozi katero to storite, veliko pomembnejša in specifikacije morajo biti veliko strožje. Pred petimi leti zmogljivost kartice sonde ni bila tako pomembna. Zdaj je to pomemben premislek pri oblikovanju in to je eden od razlogov, zakaj tako tesno sodelujemo z neverjetnimi strankami. Razumejo različne tolerance in specifikacije, ki jih bo imel vsak od teh napajalnikov. Nekateri so nekoliko bolj ohlapni, nekateri morajo biti zelo tesni. Ko oblikujete kartico sonde, ki je specifična za vsako zasnovo, to postane ena glavnih skrbi glede učinkovitosti.

Zlata Pogo sonda

Skoraj vse, kar počnemo, je bodisi gola rezina ali polna rezina, tako da je paket na koncu le del tega. Vendar vidite veliko enakih posledic, povezanih z dobavo energije, ki na koncu postanejo omejitve pri oblikovanju paketa. Zgodovinsko gledano so bili pakirani substrati precej preproste strukture - nekaj plasti kovine, ne veliko res strogih zahtev glede oblikovanja. To se je spremenilo. Zdaj vidimo veliko bolj zapletene embalaže z več plastmi. Gostote omrežij se močno povečujejo. Upravljati in prilagajati morate zmogljivost napajanja. To postaja velik zalogaj – ne samo za testiranje na ravni rezin s sondo kartico, ampak tudi v končnem paketu.

Zlata Pogo sonda

Preizkušate, da se prepričate, ali je vsaka od teh komponent komponent funkcionalno dobra ali dovolj dobra, da jo lahko popravite v končnem paketu. In ker se izdelujejo na dokaj naprednih vozliščih – vsaj 1x ali 1y nanometrskih vozliščih DRAM, donosi niso veliki. In tako je preprosta funkcionalna karakterizacija zagotavljanja, da je kocka, ki gre v kup, čim bolj dobra. Nerad uporabljam izraz "znano dobro matrica", ker prenaša pojem popolne stvari in nič v industriji polprevodnikov ni popolno. Obstaja ravnovesje med stroški in tveganjem, s katerim se ljudje nenehno igrajo, za DRAM pa obstaja določena stopnja popravljivosti in redundance. Tako vidite, da se vsi ti različni gumbi izvajajo. Toda HBM zagotovo ni vplival samo na obseg našega poslovanja s karticami DRAM sonde, temveč tudi na zahteve glede specifikacij, saj jih še naprej zaostrujejo.

Za vidik zanesljivosti nekaterih od teh novejših naprav ljudje to še vedno ugotavljajo. Obstajajo pa stvari, ki so podobne vžiganju in pospešenemu testiranju, bodisi s testiranjem temperature ali vibracij. Ugotavljajo različne načine za pospešitev najverjetnejših načinov okvare na terenu ali stvari, zaradi katerih so ljudje zaskrbljeni. Imel sem pogovore z več strankami, vendar se na tej točki osredotočamo na varnostno kopiranje popolnih funkcionalnih testov za te naprave, tako električnih kot optičnih.

Kako vas lahko podpremo?

a. R&R sistem

b. Sistem oskrbe

c. Sistem vodenja proizvodnje

d. Sistem QC

e. Sistem za testiranje in poročila

f. Sistem pakiranja in dostave

g. Inšpekcijski sistem

h. Sistem poprodajnih storitev

Priljubljena oznake: pozlačena pogo sonda, Kitajska, dobavitelji, proizvajalci, tovarna, po meri, veleprodaja, nakup, v razsutem stanju, na zalogi, brezplačen vzorec